Microscope électronique à balayage (de paillasse)JEOL
JCM-7000
Microscope électronique à balayage (de paillasse)
JEOL
JCM-7000
Année de construction
2024
État
machine d'exposition
(entièrement fonctionnel)
Emplacement
Freising 

Données sur la machine
- Désignation de la machine:
- Microscope électronique à balayage (de paillasse)
- Fabricant:
- JEOL
- Modèle:
- JCM-7000
- Année de construction:
- 2024
- État:
- Comme neuf (machine d'exposition)
- Fonctionnalité:
- entièrement fonctionnel
Prix et localisation
- Emplacement:
- Freising, Allemagne

Appel
Détails sur l'offre
- Identifiant de l'annonce:
- A206-24855
- Mise à jour:
- dernière mise à jour le 27.11.2025
Description
Le JCM-7000 associe une navigation d’échantillons extrêmement simple à une multitude de fonctions automatiques avancées. Une grande chambre d’essai, une haute résolution et un mode bas-vide commutable pour les échantillons non conducteurs font de ce MEB de paillasse un appareil polyvalent et mobile.
Caractéristiques :
• Détection SE/BSE
• Grossissement jusqu’à x100 000, résolution env. 8 nm
Ncodpfx Akexzqr Dsxet
• Fonctionnement en bas-vide pour échantillons non conducteurs
• Système EDX intégré (hardware et software) pour la caractérisation élémentaire
• Analyse élémentaire en direct, imagerie en temps réel (y compris 3D/topographie)
• Utilisation intuitive avec recettes, fonctions automatiques, montages d’images, etc.
• Grande chambre pour échantillons de 80 mm Ø ou 50 mm de hauteur max.
• Compact et mobile
• Dimensions (unité principale) : 324 mm L x 586 mm P x 566 mm H
L'annonce a été traduite automatiquement et des erreurs de traduction peuvent apparaître.
Caractéristiques :
• Détection SE/BSE
• Grossissement jusqu’à x100 000, résolution env. 8 nm
Ncodpfx Akexzqr Dsxet
• Fonctionnement en bas-vide pour échantillons non conducteurs
• Système EDX intégré (hardware et software) pour la caractérisation élémentaire
• Analyse élémentaire en direct, imagerie en temps réel (y compris 3D/topographie)
• Utilisation intuitive avec recettes, fonctions automatiques, montages d’images, etc.
• Grande chambre pour échantillons de 80 mm Ø ou 50 mm de hauteur max.
• Compact et mobile
• Dimensions (unité principale) : 324 mm L x 586 mm P x 566 mm H
L'annonce a été traduite automatiquement et des erreurs de traduction peuvent apparaître.
Fournisseur
Remarque : Inscrivez-vous gratuitement ou connectez-vous, pour accéder à toutes les informations.
Enregistré depuis: 2025
2 annonces en ligne
Envoyer une demande
Téléphone & Fax
+49 8161 ... afficher
Ces annonces pourraient également vous intéresser.
Annonce
Mainz
611 km
Microscope électronique à balayage (MEB)
ZeissXB 350
ZeissXB 350
Annonce
Freising
759 km
Microscope électronique à balayage à émission de champ
JEOLJSM-IT800is
JEOLJSM-IT800is
Annonce
Borken
713 km
Diffractomètre à rayons X (XRD)
PANalyticalX’Pert PRO MPD
PANalyticalX’Pert PRO MPD
Annonce
Allemagne
817 km
Rectifieuse de vilebrequins
SCHMALTZRGK 1000/5000
SCHMALTZRGK 1000/5000
Annonce
Polkowice
1 168 km
Scie
Piła STRUERS MagnutomMagnutom 5000
Piła STRUERS MagnutomMagnutom 5000
Annonce
Duxford
670 km
Spectromètre de masse Bruker Maldi-Tof Microflex
BrukerMicroflex
BrukerMicroflex
Annonce
Autriche
1 086 km
Machine à rectifier les surfaces
CHEVALIERFSG-1640AF
CHEVALIERFSG-1640AF
Annonce
Dorsten
699 km
Rectifieuse de vilebrequins
NAXOS-UNIONK630/2500
NAXOS-UNIONK630/2500
Annonce
Erlangen
751 km
Unité laser incl. refroidisseur
LaserlineLDF 16000-100
LaserlineLDF 16000-100
Annonce
Elchingen
644 km
Machine de découpe au laser
TRUMPFTruDisk 4006 (6C)
TRUMPFTruDisk 4006 (6C)
Votre annonce a été supprimée
Une erreur est survenue




























































































