Microscope électronique à balayage (de paillasse)
JEOL JCM-7000

Année de construction
2024
État
machine d'exposition (entièrement fonctionnel)
Emplacement
Freising Allemagne
Microscope électronique à balayage (de paillasse) JEOL JCM-7000
Microscope électronique à balayage (de paillasse) JEOL JCM-7000
Microscope électronique à balayage (de paillasse) JEOL JCM-7000
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JEOL JCM-7000
JEOL JCM-7000
JEOL JCM-7000

Données sur la machine

Désignation de la machine:
Microscope électronique à balayage (de paillasse)
Fabricant:
JEOL
Modèle:
JCM-7000
Année de construction:
2024
État:
Comme neuf (machine d'exposition)
Fonctionnalité:
entièrement fonctionnel

Prix et localisation

Emplacement:
Freising, Allemagne Allemagne
Appel

Détails sur l'offre

Identifiant de l'annonce:
A206-24855
Mise à jour:
dernière mise à jour le 27.11.2025

Description

Le JCM-7000 associe une navigation d’échantillons extrêmement simple à une multitude de fonctions automatiques avancées. Une grande chambre d’essai, une haute résolution et un mode bas-vide commutable pour les échantillons non conducteurs font de ce MEB de paillasse un appareil polyvalent et mobile.

Caractéristiques :
• Détection SE/BSE
• Grossissement jusqu’à x100 000, résolution env. 8 nm
Ncodpfx Akexzqr Dsxet
• Fonctionnement en bas-vide pour échantillons non conducteurs
• Système EDX intégré (hardware et software) pour la caractérisation élémentaire
• Analyse élémentaire en direct, imagerie en temps réel (y compris 3D/topographie)
• Utilisation intuitive avec recettes, fonctions automatiques, montages d’images, etc.
• Grande chambre pour échantillons de 80 mm Ø ou 50 mm de hauteur max.
• Compact et mobile
• Dimensions (unité principale) : 324 mm L x 586 mm P x 566 mm H

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Fournisseur

Enregistré depuis: 2025

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