Microscope Électronique à Balayage (PC-SEM)

Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Type : Jeol JSM-6490
Microscope électronique à balayage Jeol JSM-6490 (PC-SEM)
Microscope électronique à balayage numérique moderne, haute résolution, équipé d'une optique électronique de nouvelle génération et d'une interface utilisateur graphique intuitive (GUI) sous Microsoft Windows XP Professional.
Équipement comprenant les caractéristiques suivantes :
Plage de grossissement : 5X - 300 000X
Tension d’accélération : 0,3 - 30 kV
Cathode à filament de tungstène (cathode LaB6 en option)
Grande platine motorisée avec inclinaison excentrique, incl. :
Navigation graphique sur le porte-échantillon
Navigation simple de l’échantillon par Click-Center-Zoom
Navigation pilotée par le champ d’image via 2 navigateurs
Navigation par coordonnées relatives
Sauvegarde et rappel des positions d’échantillons
Ajustement du champ de vision de la platine
Correction du champ d’image lors de la rotation par rotation excentrique motorisée
Correction du champ d’image lors de l’inclinaison par inclinaison excentrique motorisée
Calcul de l’angle d’inclinaison possible basé sur la géométrie de l’échantillon
Mise au point automatique lors des déplacements en axe Z
Interrupteurs de butée intelligents pour tous les axes motorisés
Course de la platine :
x = 125 mm
y = 100 mm
Dodpfjzd Ufaex Ac Iewc
z = 5 à 80 mm (continu)
T = -10°C à +90°C
R = 360° (illimité)
Détecteur d’électrons secondaires pour fonctionnement sous vide poussé
Nouvelle lentille objective superconique garantissant la plus haute résolution d’image même à grands angles d’inclinaison
Résolution garantie en image SE : 3 nm à 30 kV et 15 nm à 1 kV
Affichage d’image en direct de plusieurs détecteurs simultanément
Navigation simple grâce au Click-Center-Zoom
Fonctions performantes de mesure d’image
Fonction vidéo pour l’enregistrement de processus dynamiques
Chambre échantillon polyvalente avec nombreux ports pour extensions : brides libres pour EDX, WDX, EBSD, cathodoluminescence, etc.
Système de pompage silencieux, nécessitant peu d’entretien et à faible usure, composé d’une pompe primaire, pompe à diffusion haute performance sans vibrations et vanne électromagnétique
Sécurités complètes contre les erreurs de manipulation et la défaillance des supports externes
Table système ergonomique et réglable en hauteur
Kit de démarrage SEM comprenant 2 porte-échantillons, un jeu d’outils et 6 cathodes de rechange
Équipement supplémentaire SEM :
Pompe turbomoléculaire à la place de la pompe à diffusion de série
Avec l’utilisation d’une pompe turbomoléculaire, le fonctionnement du SEM ne nécessite plus d’eau de refroidissement.
Autres équipements SEM :
PC pour le contrôle du microscope
avec moniteur TFT
OX200 Bruker Quantax 200 EDX-Système EXTENDED
Le logiciel EDX Bruker sera transféré au nouveau propriétaire après l’achat !
Système d’analyse X à dispersion d’énergie sans azote, incl. :
Détecteur SDD avec résolution énergétique de 127 eV ou meilleure
Détection de tous les éléments à partir du bore
Sans vibration, sans maintenance. Refroidissement Peltier (sans azote)
Processeur d’impulsions
Moniteur TFT
Mesure des spectres & identification des éléments
Analyse élémentaire quantitative automatique sans étalon
Acquisition d’images
Lignes de Scan qualitatives ultra-rapides
Cartographie élémentaire qualitative ultra-rapide
Système de gestion et d’archivage des données
Création de rapports et exportation des résultats
Communication des données
Installation et initiation comprises
HyperMap
Analyse multipoint
Détecteur Bruker xFlash (SDD) avec u

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