Diffractomètre à rayons X (XRD)

PANalytical X’Pert PRO MPD

PANalytical X’Pert PRO MPD Diffractomètre à rayons X (XRD)

Extrait du rapport de service :
Appareil : PANalytical X’Pert PRO MPD
Date d’intervention : 07/07/2021
Travaux réalisés :
- Remise en place et remise en service du système
- Raccordement des alimentations externes
- Phase de préchauffage
- Réglage complet du goniomètre et d’autres composants
- Maintenance, incluant le remplacement des pièces défectueuses
Pièces de rechange utilisées :
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERIE NI-CD
Ventilateur pour unité X-CELERATOR
Filtre à eau
Moteur PW3050
("L’appareil n’a pas été testé dans notre établissement")

Le X’Pert PRO MPD est un diffractomètre à rayons X (XRD) très polyvalent et performant pour la caractérisation structurelle des matériaux cristallins. Idéal tant pour la recherche fondamentale que pour les applications de routine en industrie et à l’université. Grâce à sa conception modulaire, sa détection rapide, son contrôle de la température et de l’atmosphère, il convient aussi bien aux analyses de routine qu’aux expériences complexes in situ.

Caractéristiques principales :
Géométries de mesure variées possibles :
- Réflexion en mode Bragg-Brentano (θ–2θ)
- Géométrie en transmission pour poudres en capillaires
- En option, SAXS (diffusion des rayons X aux petits angles) pour nanostructures

Source de rayonnement et détecteurs :
- Souvent anode cuivre (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
- Détecteur X’Celerator (1D, très rapide) pour acquisition de données parallèles
Dkjdjwycatepfx Afwou

Système modulaire avec technologie PreFIX :
- Changement rapide des optiques et plateaux échantillons sans recalibrage

Mesures in situ à haute température :
- Analyses possibles jusqu’à env. 1200°C

Atmosphère contrôlée : air, azote, oxygène (limitation en mode réducteur)

Applications typiques :
- Analyse de phases et analyse quantitative par la méthode de Rietveld
- Détermination de la taille des cristallites, microdéformations, contraintes internes
- Études in situ des transitions de phase, oxydation, cristallisation, etc.
- Mesures SAXS pour l’analyse de nanoparticules, structures poreuses
- Large spectre d’échantillons : poudres, couches minces, céramiques, produits pharmaceutiques, catalyseurs, etc.

Données techniques (exemple) :
Propriété et spécification
Plage angulaire (2θ) : env. 0,5° à 150°
Pas : jusqu’à 0,002° ou plus fin
Goniomètre : vertical, 0–0, rayon env. 240 mm
Température : température ambiante jusqu’à environ 1200°C
Atmosphère : air, N₂, O₂ (limité en mode réducteur)
Détecteurs : X’Celerator (1D), compteur proportionnel

Répartition & domaines d’utilisation :
Le X’Pert PRO MPD est utilisé dans le monde entier, par ex. :
- Universités (ETH Zurich, TU Dresde, Université de Vienne)
- Instituts de recherche (p. ex. instituts Max-Planck, ICN2, IS2M)
- Industrie (développement de matériaux, pharmacie, chimie…)

État : occasion / used
Contenu de livraison : (voir photo)
(Toute modification ou erreur dans les données techniques reste réservée !)
Pour toute question additionnelle, nous sommes à votre disposition par téléphone.

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